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電子デバイス・実装技術セミナーのご案内
電子デバイス・実装技術セミナー (福島県組込み関連産業研究会、福島県航空・宇宙産業技術研究会 合同セミナー)信頼性評価技術の最新動向
~ 高加速寿命試験(HALT )とバウンダリ スキャンテスト技術の紹介 ~
近年、電子デバイスの微小化が進み、製造・品質管理はますます困難になっています。 そこで、「信頼性評価技術」をテーマとするセミナーを、下記により開催いたします。奮ってご参加ください。
記
1 日 時 平成26年12月3日(水) 13:00~16:00
2 場 所 福島県ハイテクプラザ 多目的ホール (郡山市待池台1-12)
3 内容・講師
(1)演題: 「高加速寿命試験(HALT)技術の最新動向」
講師: 株式会社東陽テクニカ HALT技術センター 川上雅司 氏
(2)演題: 「JTAGバウンダリ スキャンテスト技術の最新動向」
講師: アンドールシステムサポート株式会社 古長由行 氏
4 受講料 無料
5 申込方法 開催案内(pdf形式)に必要事項をご記入の上、FAXまたは各項目をe-mailで
下記あてお送りください。なお、e-mailのタイトルは「実装申込」として下さい。
6 申込先 工業材料科 工藤 まで
FAX 024-959-1761
e-mail: kudo_hiroyuki_01@pref.fukushima.lg.jp
6 申込締切 平成26年12月1日(月)