新着情報

電子デバイス・実装技術セミナーのご案内

            電子デバイス・実装技術セミナー
   (福島県組込み関連産業研究会、福島県航空・宇宙産業技術研究会 合同セミナー)
              信頼性評価技術の最新動向
    ~ 高加速寿命試験(HALT )とバウンダリ スキャンテスト技術の紹介 ~

 近年、電子デバイスの微小化が進み、製造・品質管理はますます困難になっています。 そこで、「信頼性評価技術」をテーマとするセミナーを、下記により開催いたします。奮ってご参加ください。

                 記

 1 日  時   平成26年12月3日(水) 13:00~16:00

 2 場  所   福島県ハイテクプラザ 多目的ホール (郡山市待池台1-12)

 3 内容・講師
  (1)演題: 「高加速寿命試験(HALT)技術の最新動向」
     講師:  株式会社東陽テクニカ HALT技術センター  川上雅司 氏

  (2)演題: 「JTAGバウンダリ スキャンテスト技術の最新動向」
     講師:  アンドールシステムサポート株式会社  古長由行 氏

 4 受講料    無料

 5 申込方法   開催案内(pdf形式)に必要事項をご記入の上、FAXまたは各項目をe-mailで
          下記あてお送りください。なお、e-mailのタイトルは「実装申込」として下さい。

 6 申込先     工業材料科 工藤 まで
            FAX 024-959-1761
            e-mail: kudo_hiroyuki_01@pref.fukushima.lg.jp

 6 申込締切    平成26年12月1日(月)

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  • 福島県
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福島県ハイテクプラザの機器整備事業には、(公財)JKAの補助金が使われています。

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