ナノスケール物性測定システム

区分
設備
分類
分析機器類
メーカー
パーク・システムズ・ジャパン / ハイジトロン
型式
XE-7 / TriboScope-1D
仕様及び性能
AFM機能
形状観察:ノンコンタクトモード
物性イメージング:磁気的特性(MFM)、電気的特性(EFM、SKPM、I-AFM)
最大スキャンエリア:(X)100 μm×(Y)100 μm×(Z)12 μm
最大試料寸法:100 mm×100 mm×20 mm厚

ナノインデンテーション機能
最大荷重:10 mN(荷重分解能:1 nN)
最大変位:5 μm(変位分解能:0.02 nm)
最大スキャンエリア:(X)100 μm×(Y)100 μm×(Z)12 μm
最大試料寸法:100 mm×100 mm×15 mm厚
 
※上記の仕様・性能は、カタログからの引用等ですので、実際に測定・試験ができる試料や測定物の種類・大きさ・形状等につきましては、担当職員までご確認ください。
用途
ナノスケールでの表面形状測定と同時に磁気的特性・電気的特性・粘弾性特性などの表面物性評価も可能です。さらにナノインデンテーション機能を付与したことにより力学特性の評価が可能です。
導入年
2015年 
画像
料金
7030円/時間
設置場所
福島県ハイテクプラザ(郡山)
予約・連絡先
024-959-1737
備考
県外企業は料金が2倍となります。詳しくは担当職員までご確認ください。