走査型電子顕微鏡

区分
設備
分類
分析機器類
メーカー
日本電子(株)
型式
JSM-6510LA
仕様及び性能
分解能:高真空モード 3.0nm(30kV)、8nm(3kV)、15nm(1kV)
    低真空モード 4.0nm(30kV)
倍率:×5〜×300、000(画像サイズ128mm×96mm)
加速電圧:0.5〜30kV
用途
真空中で細く絞った電子線でサンプル表面を走査し、その時にサンプルから放出される信号を検出して、液晶モニタ上にサンプル表面の拡大像を表示させる装置です。本装置は本体にエネルギー分散型X線分析装置(EDS)を装着したシステムで、サンプル表面の観察および元素分析を行うことができます。
導入年
2014年 
画像
料金
5550円/時間
設置場所
福島技術支援センター
予約・連絡先
024-593-1122
備考
・当該設備は(公財)JKAの補助事業(機械工業振興補助事業)により導入されました。
・県外企業は料金が2倍となります。詳しくは担当職員までご確認ください。